学历：博士

职称：讲师

主要研究方向为视觉学习与微观异常检测、图像分割与模糊聚类，研发了TO56型半导体激光器引线键合及芯片外观缺陷检测设备、半导体LED芯片外观缺陷检测设备、核包覆燃料颗粒各层厚度快速测量装置等多台微观缺陷（半导体芯片、核燃料颗粒等）智能检测设备。