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王伟征副教授

2020-03-16 10:15:53

长沙理工大学计算机与通信工程学研究生导师基本信息表

 

1、个人基本信息:

 

    名:王伟征

    别:男

 

出生年月:198410

技术职称:副教授

 

毕业院校:湖南大学

学历(学位):博士

 

所在学科:

计算机科学;通信与信息系统

研究方向:

人工智能安全,硬件安全等

 

2、教育背景:

 

2001.9-2005.7

湖南大学

学士

 

2005.9-2007.7

湖南大学

硕士提前攻博

 

2007.9-2011.12

湖南大学

工学博士

 

3、目前研究领域:

 

人工智能安全,集成电路安全,电路设计与测试

 

4、已完成或已在承担的主要课题:

 

主持国家自然科学基金青年项目1项、湖南省教育厅优秀青年项目1项;作为主要成员参与国家自然科学基金项目、教育厅重点项目、省级教改项目共4项;

(1)       国家自然科学基金青年项目基于线性解压器的测试压缩技术效率提升及功耗优化研究”(批准号:61303042)2014-012016-1223万元,主持。

(2)       湖南省教育厅科学研究优秀青年项目数字系统低成本、高性能的可测试性设计技术研究”(批准号:17B011)2018-012020-127万元,主持。

(3)       国家自然科学基金项目逻辑级破解纳米集成电路软错误可靠性评估难题的新方法”(批准号:61702052)2018-012020-1224万元,参与。

(4)       湖南省教育厅重点青年项目 空间辐射环境下纳米集成电路瞬态故障分析与可靠性评估”(批准号:18A137)2019-012021-1210万元,参与。

(5)       湖南省教育厅重点青年项目能量受限的视频编码理论与方法研究”(批准号:13A107)2013-92016-86万元,参与。

(6)       湖南省教改项目 线上线下互动开放式“金课”的探索与实践-以公共编程基础课为例”(湘教通[2019]291)2019-092022-08,参与。

 


5、已出版的主要著作:






(1) 王伟征; 蔡烁; 吴宏林; 数字VLSI电路低费用低功耗测试技术, 南方出版社, 2018-12.

(2) 吴宏林;王伟征; 赵淑珍; 稀疏理论及其在信号处理中的应用, 南方出版社, 2019-08.






6、已发表的学术论文:

 






以第一作者发表相关论文15篇。其中,SCI检索国际期刊论文11篇,EI检索期刊论文3篇(含国内权威期刊《计算机研究与发展》1篇),国际会议International  MultiConference of Engineers and Computer Scientists论文1篇:

[1]  Weizheng Wang, Zhuo Deng, Jin Wang. Enhancing Sensor Network Security  with Improved Internal Hardware Design, Sensors, 2019, 19, 1752. (SCI)

[2]  Weizheng Wang, Jincheng Wang, Wei Wang, Peng Liu, Shuo Cai. A Secure  DFT Architecture Protecting Crypto Chips Against Scan-Based Attacks, IEEE  Access, 2019, 7: 22206-22213. (SCI)

[3]  Weizheng Wang, Zhuo Deng, Jin Wang. Securing Cryptographic Chips  Against Scan-based attacks in Wireless Sensor Network Applications, Sensors,  2019, 19, 4598. (SCI)

[4]  Weizheng Wang, Jincheng Wang, Zengyun Wang, Lingyun Xiang.  Access-in-turn test architecture for low-power test application,  International Journal of Electronics, 2017, 104(3): 433~441. (SCI)

[5]  Weizheng Wang, Jincheng Wang, Shuo Cai, Wei Su, Lingyun Xiang.  Compression-friendly low power test application based on scan slices reusing,  Journal of Semiconductor Technology and Science, 2016, 16(4): 463~469. (SCI)

[6]  Weizheng Wang, Cai Shuo, Lingyun Xiang. SOC Test Compression Scheme  Sharing Free Variables in Embedded Deterministic Test environment, Journal of  Semiconductor Technology and Science, 2015, 15(3): 397-403. (SCI)

[7]  Weizheng Wang, Cai Shuo, Lingyun Xiang. Scan Power-Aware Deterministic  Test Scheme Using a Low-Transition Linear Decompressor. International Journal  of Electronics, Vol. 102, No. 4, pp: 651-667, 2015 (SCI)

[8]  Weizheng Wang, Cai Shuo, Lingyun Xiang. Reducing Test Power and  Improving Test Effectiveness for Logic BIST, Journal of Semiconductor Technology  and Science, Vol. 14, No. 5, pp: 640-648,2014. (SCI)

[9]  Weizheng Wang, Liu Peng, Cai Shuo, Lingyun Xiang. Low power logic BIST  with high test effectiveness. IEICE Electronics Express, Vol. 10, No. 23, pp:  1-6, 2013. (SCI)

[10]  Weizheng Wang, Jishun Kuang, Liu Peng, Xin Peng, Zhiqiang You.  Switching activity reduction for scan-based BIST using weighted scan input  data. IEICE Electronics Express, Vol. 9, No. 10, pp: 874-880, 2012. (SCI)

[11]  Weizheng Wang, Jishun Kuang, Zhiqiang You. Achieving low capture and  shift power in linear decompressor-based test compression environment,  Microelectronics Journal, Vol. 43, No. 1, pp: 143-140, 2012. (SCI)

[12]  王伟征,邝继顺,尤志强, 刘鹏. 一种基于扫描子链轮流扫描捕获的低费用BIST方法, 计算机研究与发展, 49, 4 ,  864-872 , 2012. (EI)

[13]  Weizheng Wang, Jishun Kuang, Zhiqiang You, Liu Peng. Reducing  Test-Data Volume and Test-Power Simultaneously in LFSR Reseeding-based  Compression Environment, Journal of semiconductors, Vol. 32, No. 7, pp:  075009(1)-075009(7), 2011. (EI)

[14] Weizheng Wang, Jishun Kuang, Zhiqiang You. Low Power  Compression in linear decompressor-based test compression environment.  International Review on Computers and Software, Vol. 6, No. 4, pp: 550-554,  2011. (EI)

[15] Weizheng Wang, Jincheng Wang, Shuo Cai, Peng Liu, Tieqiao  Liu. A Low-Area Overhead Secure Scan Architecture Resisting Scan-Based  Attacks for Crypto Chips, Proceedings of the International MultiConference of  Engineers and Computer Scientists (IMECS 2017), Hong Kong, March 15-17.

 

7、 所获学术荣誉及学术影响:

1、 中国计算机学会会员

2、 IEEE会员

3、 担任IEEE AccessElectronics  LettersMicroelectronics  Journal等国际SCI期刊的审稿人







联系方式:peakexpe@csust.edu.cn

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